Oberflächenmessungen im Subnanometerbereich Das Weißlichtinterferometer MarSurf WM 100 ist ideal für schnelle Messungen von feinsten Oberflächendetails im Subnanometerbereich. Durch das flächenerfassende Messverfahren können in nur wenigen Sekunden topografische Messergebnisse der Oberflächenbeschaffenheit ermittelt werden. Der Messplatz misst Topografie,...