Die Highspeed-Inspektionssysteme von Xeltron vertrauen auf die Grablink Duo Camera Link-Framegrabber von Euresys für ihre hohe Genauigkeit und ihren Durchsatz.
Im KI-Vision-Umfeld tummeln sich viele Anbieter von OCR-Lösungen. Für versierte Anwendende sind zudem viele Open Source Werkzeuge und öffentlich zugängliche Netzarchitekturen verfügbar. Doch ohne technischen Background bleiben viele OCR-Aufgaben dennoch ungelöst. Anders bei IDS: Mit der KI-Vision-Lösung Denknet können alle Bildverarbeitungskomponenten für schnelle, zuverlässige und wirtschaftliche OCR-Aufgaben aus einer Hand geliefert und einfach ausprobiert werden.
Die Baumer VAX-50 Smart Camera gibt es jetzt auch mit der Pekat Vision-Software.
E-con Systems und SiMa.ai bieten eine sofort einsatzbereite Kameralösung an, die dabei hilft, Machine Learning in Embedded Edge-Anwendungen zu integrieren.
Das vollautomatische Scangate von Vision Components wurde entwickelt, um Barcodes auf Paketen zu identifizieren und zu lesen, während ein Gabelstapler durchfährt.
Der MX-G2000 von Datasensing hat einen Vision-Prozessor, der den Intel-Chipsatz der 12. Generation und die Nvidia RTX-GPU integriert hat.
Die FPGA-basierte Vision-Plattform NATvision basiert auf dem MicroTCA-Standard.
Das Edge Device AIE-KN41 von Spectra vereint Nvidias Jetson Orin NX Plattform, kompakte Bauweise und hohe KI-Performance.
Die intelligente Kamera Vision Cam XM2 von Imago Technologies basiert auf dem Nvidia Jetson Orin Modul und ermöglicht Edge-AI-Anwendungen.
Der All-in-One-Tunnel von Eines Vision Systems ist mehr als nur eine Inspektions- und Qualitätskontrolllösung und ist in der Lage, Defekte, falsch montierte Komponenten und Oberflächenschäden zu erkennen.
Dank des neuen Softwarefeature One Click Roughness liefert das neue FokusX Messgerät von Bruker Alicona ISO-konforme Profilrauheitswerte mit nur einem Klick, wobei die mindeste messbare Rauheit bei 0,06m liegt.
Third Dimensions Vectro2 für die CRX Fanuc Cobots ermöglicht die schnelle 2D-Profilmessungen.
Das Depalettierungssoftwaremodul rc_reason BoxPick von Roboception ist eine optionale integrierte Komponente des rc_visard, die Pick&Place-Anwendungen wie De-/Palettierung und Sortierung von Paketen bietet.
Die Smart Camera von Living Optics ist eine 5MP-VIS-NIR-Spektralkamera mit einem Nvidia Jetson AGC Orin und 96 Spektralbändern (440-900nm).
Swir Vision Systems stellt die Acuros Go 6MP Swir-Kamera vor, eine tragbare, spiegellose IP67-Kamera mit der hochauflösender Colloidal Quantum Dot Swir-Sensortechnologie des Unternehmens.
Mit dem robusten KI-Handscanner der Modellreihe HR-X kombiniert Keyence die Technologien aus stationären und mobilen Codelesern in einem Gerät.
Ein erstes Highlight des inVISION Day Metrology ist die 40 minütige Keynote des Werkzeugmaschinenlabor (WZL) der RWTH Aachen.
Bei der 3D Scanner Session (Start 10:00 Uhr) sind AT Automation Technology (Metrology Software enables super fast 3D evaluation), Hexagon (Structured light scanning made easy) sowie Saccade Vision (High resolution 3D scanning focuses on your features of interest) dabei.
Die Inline Metrology Session (Start 11:10 Uhr) startet mit Nikon (Laser Radar Metrology in EV Production), Micro-Epsilon (Inline 3D Measurements), bevor Eleven Dynamics (Universal Comaptibility with any Robot, Software & Sensor) und API Metrology (Efficiency through Integrated API Measurement Solutions for Automation) ihre Innovationen präsentieren.
Die Surface Metrology Session (Start 12:50 Uhr) umfasst Opto (Fast Anomaly detection on technical surfaces), Heliotis (3D inline sensor for inspection machines), Mahr (Modern surface measurement technology for hand use) sowie Precitec / Enovasense (Breakthrough in high resolution under surface analysis).
In der letzten Session des Tages präsentiert das Fraunhofer EZRT und X-ray lab das Thema ‚Boost your CT inspection: Up to 60% efficiency increase without hard- or software changes‘.
Der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA hat vier Messtechnik Firmen ausgesucht, die in zehn Minuten Vorträgen während der EMVA Innovations Sessions ab 14:50 Uhr ihre Technik Highlight dem Publikum kurz vorstellen werden.
Zum Abschluss des Konferenztages startet um 15:30 Uhr die Diskussionsrunde ‚Using AI for Dimensional Metrology‘ mit Teilnehmern von Hexagon, LMI Technologies, Visiconsult und Zeiss.
Die Anmeldung für den inVISION Day Metrology ist kostenfrei und bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedenen Vorträgen auch einzeln Live teilzunehmen (und den Webinar-Link dafür mehrmals zu nutzen) oder im Nachgang der Konferenz einzelne Vorträge nochmals als Webinar-on-Demand anzusehen.
Die Messe Control und die EMVA sind Event Partner des inVISION Day Metrology.
Im Rahmen der inVISION TechTalks Webinare findet am 19. November ab 14 Uhr ein weiteres ‚Metrology‘ Webinar statt, bei dem bereits AT Automation Technology, API Metrology und Nikon Metrology als Speaker bestätigt sind.
Neben inVISION Chefredakteur Dr.-Ing. Peter Ebert (l.) wird als Co-Moderator erneut Joachim Hachmeister (m.) von D&H Premium Events dabei sein.
Oxford Instruments Market Cap um fast 9% gestiegen.
