Preis der Siegfried Werth Stiftung für OCT-System

Preis der Siegfried Werth Stiftung für OCT-System

Für die Entwicklung eines polarisationssensitiven OCT-Systems zur Echtzeitmessung semitransparenter Schichten erhielt Nicolai Brill anlässlich der Control 2014 den Preis der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung. Mit dem neuen Verfahren lassen sich nun transparente und semitransparente Materialien auf mechanische Eigenspannungen prüfen. Das neue System zeichnet sich durch eine besonders hohe Messfrequenz bis zu 280.000 A-Scans/sec aus.

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Bild: TeDo Verlag GmbH
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