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  • Blickfeld gibt Partnerschaft mit Senstar bekannt

    Blickfeld gibt Partnerschaft mit Senstar bekannt

    Blickfeld gibt die Partnerschaft mit Senstar bekannt und erweitert das Senstar-Portfolio um den 3D-LiDAR-Sensor Blickfeld QbProtect.

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  • Gratis Tickets für die Vision 2024

    Gratis Tickets für die Vision 2024

    Vom 8. bis 10. Oktober findet die Vision 2024 in Stuttgart statt. Die Messe Vision und die inVISION bieten Ihnen die Möglichkeit, sich bereits jetzt ein kostenfreies Ticket für die…

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    Fiber Mini SFF für GigE Vision

    Fiber Mini SFF für GigE Vision

    OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.

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  • Überarbeitete VDI/VDE/VDMA 2632 Blatt 2

    Überarbeitete VDI/VDE/VDMA 2632 Blatt 2

    Die Richtlinie VDI/VDE/VDMA 2632 Blatt 2 gibt Hinweise für die Erstellung eines Lastenhefts für industrielle Bildverarbeitungssysteme.

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  • TKH Vision weiter im Minus

    TKH Vision weiter im Minus

    Die Smart Vision Systeme von TKH Vision verzeichneten im Q1 2024 einen organischen Umsatzrückgang von 12,4% gegenüber dem Q1 2023.

    mehr lesen: TKH Vision weiter im Minus

  • Heidelberger BV Forum bei Sick

    Heidelberger BV Forum bei Sick

    Am 2. Juli findet auf dem SIA Campus von Sick in Waldkirch das 87. Heidelberger Bildverarbeitungsforum statt. Schwerpunktthema ist ‚KI in der Praxis: was geht schon, was kommt noch?‘.

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  • Keynote: WZL der RWTH Aachen

    Keynote: WZL der RWTH Aachen

    Ein erstes Highlight des inVISION Day Metrology ist die 40 minütige Keynote des Werkzeugmaschinenlabor (WZL) der RWTH Aachen.

    mehr lesen: Keynote: WZL der RWTH Aachen

  • Session 1: 3D Scanner

    Session 1: 3D Scanner

    Bei der 3D Scanner Session (Start 10:00 Uhr) sind AT Automation Technology (Metrology Software enables super fast 3D evaluation), Hexagon (Structured light scanning made easy) sowie Saccade Vision (High resolution…

    mehr lesen: Session 1: 3D Scanner

  • Session 2: Inline Metrology

    Session 2: Inline Metrology

    Die Inline Metrology Session (Start 11:10 Uhr) startet mit Nikon (Laser Radar Metrology in EV Production), Micro-Epsilon (Inline 3D Measurements), bevor Eleven Dynamics (Universal Comaptibility with any Robot, Software &…

    mehr lesen: Session 2: Inline Metrology

  • Session 3: Surface Inspection

    Session 3: Surface Inspection

    Die Surface Metrology Session (Start 12:50 Uhr) umfasst Opto (Fast Anomaly detection on technical surfaces), Heliotis (3D inline sensor for inspection machines), Mahr (Modern surface measurement technology for hand use)…

    mehr lesen: Session 3: Surface Inspection

  • Session 4: CT & X-Ray

    Session 4: CT & X-Ray

    In der letzten Session des Tages präsentiert das Fraunhofer EZRT und X-ray lab das Thema ‚Boost your CT inspection: Up to 60% efficiency increase without hard- or software changes‘.

    mehr lesen: Session 4: CT & X-Ray