Um 12:30 Uhr startet Session 3 mit dem Thema ‚Surface Metrology‘. Die Vorträge hierzu halten das Fraunhofer IPM (Inline Roughness Measurement Using Laser Speckle Correlation), Mahr (Optosurf – Scattered Light Measurement for Roughness, Form and Waviness) und Bruker Alicona (One Click Roughness Measurements).
Until now the common foundation was: the information contained for machine vision is in the…
Der NS42 AI Vision-Sensor von Zebra Technologies ist mit KI-gestützter OCR und Anomalie-Erkennung ausgestattet für…
OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.
Der VDMA Machine Vision organisiert erstmalig auf der Vision 2026 Guided Touren zu ‚KI in…
Im Mittelpunkt der abschließenden Podiumsdiskussion des Metrology Day 2026 stand die Frage, wie sich die…
