Inline Computational Imaging von AIT kombiniert die Verfahren Lichtfeld und Photometrie in einem kompakten Setup und ermöglicht in Echtzeit die simultane Erfassung von 2D-Farbdaten und 3D-Tiefeninformationen. Die Technologie arbeitet weitgehend unabhängig von den Oberflächeneigenschaften der Prüfobjekte (glänzend, matt, textuiert…).

Abweichungen im Mikrometerbereich werden dabei robust erkannt.














![Die [me] – mechatronik & engineering wird digital](https://cdn.tedo.be/tedo-mu/wp_uploads/sites/10/2026/03/Unbenannt.jpeg)


