Optische Messtechnik
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EMVA Innovations beim inVISION Day Metrology
Für den inVISION Day Metrology am 10. Juni hat die EMVA vier besonders interessante Firmen ausgewählt, die ihre innovativen Lösungen in 10 Minuten Vorträgen ab 14:50 Uhr auf der Online-Konferenz präsentieren werden: Shinephi (Real-time, Nanoscale Optical Metrology for Advanced Manufacturing), Altimet (Multiscale Characterization Surfaces Platform from mm to nm), Optrion (Novel Shearography Measurement Devices for…
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3.400 Besucher auf der Optatec
Die 17. Optatec verzeichnete knapp 3.400 Besuchern und 265 Aussteller aus 25 Nationen.
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Inline-Inspektion Hochvoltspeicher
Mit Batteryspect-3D stellt Automation W+R eine Turnkey-Lösung vor, die die vollständige Inline-Oberflächenprüfung und Geometrievermessung von Automotive-Hochvoltspeichern in einer einzigen Anlage ermöglicht.
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