In Session 4 (ab 13:40 Uhr) steht alles im Zeichen von NDT und CT-Röntgen. Auf dem Programm stehen Vorträge vom Lehrstuhl FMT zu schnelleren CT-Scans mit optimierten, aufgabenbezogenen Scanwinkeln, von Wert zum Schwerpunkt Prozesssicherheit und Rückverfolgbarkeit statt „halluzinierender“ KI-Analyse sowie von der Wenzel Group zur automatisierten CT-Messtechnik („Load, Select, Scan“). Die Audioaufzeichnung wurde mit Hilfe von KI erstellt und vom Tido Verlag bereitgestellt.
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In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘. Hier erwarten Sie spannende Vorträge des Lehrstuhl FMT (Faster CT Scans with optimized Accuracy through task-specific Scan Angles) sowie von Werth (Process Reliability and Traceability Instead of Hallucinating AI Analyses) und Wenzel Group (Load. Select. Scan – Automated CT Metrology).
Die automatische Konturoptimierung bei Halcon 26.11 von MVTec unterstützt leicht verformbare Objekte und kann lokale Formabweichungen bei der Modellerstellung ausgleichen.
Pipetten und Spritzenkomponenten entstehen im Kunststoffspritzguss in Millionenstückzahlen, bei kurzen Produktzyklen und steigender Geometriekomplexität. Gleichzeitig…