In Session 4 (ab 13:40 Uhr) steht alles im Zeichen von NDT und CT-Röntgen. Auf dem Programm stehen Vorträge vom Lehrstuhl FMT zu schnelleren CT-Scans mit optimierten, aufgabenbezogenen Scanwinkeln, von Wert zum Schwerpunkt Prozesssicherheit und Rückverfolgbarkeit statt „halluzinierender“ KI-Analyse sowie von der Wenzel Group zur automatisierten CT-Messtechnik („Load, Select, Scan“). Die Audioaufzeichnung wurde mit Hilfe von KI erstellt und vom Tido Verlag bereitgestellt.
* Diese Inhalte wurden mithilfe von Künstlicher Intelligenz erstellt und können Fehler enthalten.
In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘. Hier erwarten Sie spannende Vorträge des Lehrstuhl FMT (Faster CT Scans with optimized Accuracy through task-specific Scan Angles) sowie von Werth (Process Reliability and Traceability Instead of Hallucinating AI Analyses) und Wenzel Group (Load. Select. Scan – Automated CT Metrology).
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