inVISION News 21a 2026
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Fünf Gründe für Ihre Anmeldung zum inVISION Day Metrology
Überblick über aktuelle Trends in der MesstechnikNeue Lösungen für eigene AnwendungenTeilnahme online vom Arbeitsplatz ausKostenfreie RegistrierungSpäter als Video-on-Demand verfügbar
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Bild: EMVA European Machine Vision Association / P. E. Schall GmbH & Co. KGEvent Partner: Control und EMVA
Auch in diesem Jahr unterstützen der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA sowie die Messe Control den inVISION Day Metrology als Event-Partner.
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Bild: OptoMedia TechnologyFiber Mini SFF für GigE Vision
OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.
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Bild: TeDo Verlag GmbHKostenfreie Anmeldung & Video-on-Demand
Die Anmeldung für den inVISION Day Metrology ist kostenfrei und bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedenen Vorträgen auch einzeln Live teilzunehmen (und den Webinar-Link dafür mehrmals zu nutzen) oder im…
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Bild: Werth / AT Sensors / Zeiss / Creaform / Visiconsult / Fraunhofer IPMDiskussionsrunde ‚The Future of Metrology‘
Ab 15:30 Uhr steht im Rahmen der Podiumsdiskussion das Thema ‚The Future of Metrology‘ im Mittelpunkt.
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Bild: EMVA European Machine Vision AssociationInnovations selected by EMVA
Auch in diesem Jahr präsentiert der europäische Bildverarbeitungsverband vier innovative Firmen.
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Bild: ©Volume Graphics GmbHSession 4: NDT & CT/X-Ray
In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘.
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Bild: ©PolytecSession 3: Surface Inspection
Um 12:30 Uhr startet Session 3 mit dem Thema ‚Surface Inspection‘.
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Bild: ©Ametek GmbH – Creaform DeutschlandSession 2: Automated Metrology
Weiter geht es zur zweiten Session ‚Inline Metrology‘ um 11:10 Uhr u.a. mit Vorträgen von Kistler & AIT Goehner (Industrial Dimensional Measurement made easy with KiVision), sowie Eleven Dynamics (The…
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Bild: ©AkeDynamic/stock.adobe.comSession 1: 3D Scanning
Zur ersten Session ‚3D Scanning‘ (Start 10:00 Uhr) begrüßen wir u.a. AT Sensors (Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with 3D Laser Profilers) und Shining 3D (Markerless Scanning.
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Bild: RPTU Kaiserslautern-LandauKeynote: The Filter Toolbox ISO16610
Die Keynote ‚The Filter Toolbox ISO16610 for Surface Topography – Theory & Application Examples‘ wird von Prof. Dr. Jörg Seewig (RPTU Kaiserslautern-Landau) gehalten.
