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Thematik: KI & Deep Learning
Ausgabe: inVISION eMagazin Start-Ups (english) 2024
IUNA AI Systems GmbH
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100-Prozent-Kontrolle durch Machine Vision als Service
Die VisionKey GmbH hat die neue Marke Sortservice gegründet und bietet ab sofort 100-Prozent-Kontrolle durch Machine Vision als Service an.
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25Mio.A$ für Ausbau von KI-Sensorsystemen
Das australische Unternehmen Arkeus hat eine Series-A-Finanzierung über 25Mio.A$ abgeschlossen.
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Wenzel Technologieforum mit Partnern
Am 25. Juni lädt die Wenzel Group nach Wiesthal zum Technologieforum ein.
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Humanoide Robotik: Studie erwartet deutlichen Marktausbau
Der Markt für humanoide Roboter steht laut Interact Analysis noch am Anfang, soll jedoch in den 2030er-Jahren deutlich wachsen.
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EMVA Innovations beim inVISION Day Metrology
Für den inVISION Day Metrology am 10. Juni hat die EMVA vier besonders interessante Firmen…
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Maschinenexporte aus Deutschland im ersten Quartal rückläufig
Die deutschen Maschinenexporte sind im ersten Quartal 2026 um 2,0% auf 48,9 Milliarden Euro gesunken.
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Heidelberger BV-Forum in Mannheim
Am 7. Juli findet das 93. Heidelberger Bildverarbeitungsforum an der Universität Mannheim mit der Unterstützung von Basler statt. Schwerpunkt ist dann ‚Learning…
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Geschäftsstellenleitung im Leistungszentrum Terahertzsensorik wechselt
Anna Bischof hat am 1. Mai die Leitung der Geschäftsstelle des Leistungszentrums Terahertz (LZ THz) von Benjamin Hoffmann übernommen.
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Innovations selected by EMVA
Auch in diesem Jahr präsentiert der europäische Bildverarbeitungsverband vier innovative Firmen.
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Diskussionsrunde ‚The Future of Metrology‘
Ab 15:30 Uhr steht im Rahmen der Podiumsdiskussion das Thema ‚The Future of Metrology‘ im Mittelpunkt.
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Kostenfreie Anmeldung & Video-on-Demand
Die Anmeldung für den inVISION Day Metrology ist kostenfrei und bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedenen Vorträgen auch einzeln Live teilzunehmen (und…
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Event Partner: Control und EMVA
Auch in diesem Jahr unterstützen der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA sowie die Messe Control den inVISION Day Metrology als Event-Partner.
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Vielversprechender Start der Control Expert Days
Mit einem vollgepackten Vortragsprogramm ist die Premiere der Control Expert Days auf dem Stuttgarter Messegelände erfolgreich zu Ende gegangen.
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Erfolgreiche Neuauflage der CHII
Die diesjährige CHII (Conference for Hyperspectral Imaging in Industry) brachte am 20. und 21. Mai in Graz 121 Fachbesucher von 68 Unternehmen…
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Keynote: The Filter Toolbox ISO16610
Die Keynote ‚The Filter Toolbox ISO16610 for Surface Topography – Theory & Application Examples‘ wird von Prof. Dr. Jörg Seewig (RPTU Kaiserslautern-Landau)…
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Session 1: 3D Scanning
Zur ersten Session ‚3D Scanning‘ (Start 10:00 Uhr) begrüßen wir u.a. AT Sensors (Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with 3D Laser Profilers)…
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Session 2: Automated Metrology
Weiter geht es zur zweiten Session ‚Inline Metrology‘ um 11:10 Uhr u.a. mit Vorträgen von Kistler & AIT Goehner (Industrial Dimensional Measurement…
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Session 4: NDT & CT/X-Ray
In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘.
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Bild: Werth / AT Sensors /Zeiss / Creaform / Visiconsult / Fraunhofer IPM
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