Beim Invision Day Metrology am 10. Juni präsentiert die EMVA ab 14:50 Uhr vier ausgewählte Unternehmen mit innovativen Lösungen in jeweils 10-minütigen Online-Vorträgen: ChaiFi (Echtzeit-Nanoskalen-Optikmetrologie für die Fertigung), Ultimet (Multiskalen-Plattform zur Oberflächencharakterisierung), Optreon (neuartige Shearography-Messgeräte für die zerstörungsfreie Prüfung) und Unweld Metrics (Echtzeit-Schweißnahtinspektion per reflektiertem Licht). Die Audioaufnahme wurde KI-generiert und vom Tato Verlag bereitgestellt.
Für den inVISION Day Metrology am 10. Juni hat die EMVA vier besonders interessante Firmen ausgewählt, die ihre innovativen Lösungen in 10 Minuten Vorträgen ab 14:50 Uhr auf der Online-Konferenz präsentieren werden: Shinephi (Real-time, Nanoscale Optical Metrology for Advanced Manufacturing), Altimet (Multiscale Characterization Surfaces Platform from mm to nm), Optrion (Novel Shearography Measurement Devices for NDT) und Weldmetrix (Real-Time Weld Inspection based on reflected Light Measurement).
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