Beim Invision Day Metrology am 10. Juni präsentiert die EMVA ab 14:50 Uhr vier ausgewählte Unternehmen mit innovativen Lösungen in jeweils 10-minütigen Online-Vorträgen: ChaiFi (Echtzeit-Nanoskalen-Optikmetrologie für die Fertigung), Ultimet (Multiskalen-Plattform zur Oberflächencharakterisierung), Optreon (neuartige Shearography-Messgeräte für die zerstörungsfreie Prüfung) und Unweld Metrics (Echtzeit-Schweißnahtinspektion per reflektiertem Licht). Die Audioaufnahme wurde KI-generiert und vom Tato Verlag bereitgestellt.
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Für den inVISION Day Metrology am 10. Juni hat die EMVA vier besonders interessante Firmen ausgewählt, die ihre innovativen Lösungen in 10 Minuten Vorträgen ab 14:50 Uhr auf der Online-Konferenz präsentieren werden: Shinephi (Real-time, Nanoscale Optical Metrology for Advanced Manufacturing), Altimet (Multiscale Characterization Surfaces Platform from mm to nm), Optrion (Novel Shearography Measurement Devices for NDT) und Weldmetrix (Real-Time Weld Inspection based on reflected Light Measurement).
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