Oberflächenmessungen im Subnanometerbereich

Oberflächenmessungen
im Subnanometerbereich

Das Weißlichtinterferometer MarSurf WM 100 ist ideal für schnelle Messungen von feinsten Oberflächendetails im Subnanometerbereich. Durch das flächenerfassende Messverfahren können in nur wenigen Sekunden topografische Messergebnisse der Oberflächenbeschaffenheit ermittelt werden. Der Messplatz misst Topografie, Höhe, Form und Position an Oberflächenstrukturen und ermittelt Rauheit, Fläche und Ebenheit.

Mahr GmbH

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Bild: ©Ryan/stock.adobe.com
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