Die erste Ausgabe des inVISION Day Metrology startet mit der Keynote von Dr. Dirk Berndt, Abteilungsleiter Fertigungsmesstechnik und digitale Assistenzsysteme am Fraunhofer Institut für Fabrikbetrieb und -automatisierung (IFF). Danach finden jeweils vier Sessions mit drei 20-Minuten-Vorträgen statt. Zusätzlich stellen sich bei den EMVA Innovations vier innovative Firmen vor. Zum Abschluss des Tages wird bei der Podiumsdiskussion mit Zeiss, Hexagon und Mitutoyo das Thema ‚Metrology in the Digital Age‘ kritisch beleuchtet.
Vielfältiges Programm
In der Session ‚3D Scanner‘ zeigen AT Automation Technology, Saccade Vision und Micro Epsilon aktuelle Trends. Micro Epsilon stellt seine ‚3DInspect: Uniform evaluation software for 3D sensor technology‘ vor. AT erklärt, wie man mit 3D-Profilsensoren seine Bilder in 10 Minuten evaluieren kann und Saccade Vision stellt seine mit dem inVISION Top Innovation Award ausgezeichnete Technologie vor, die es ermöglicht, 3D-Messtechnik direkt in den Fertigungsprozess zu integrieren.
Danach präsentieren Zeiss, Heliotis und Eleven Dynamics / MQS aktuelle Inline-Messtechnik Trends. Heliotis spricht über ‚Inline-white-light-interferometrie for the sub-µm range‘, Zeiss über ‚Inline solutions for car body metrology‘ und Eleven Dynamics/MQS über ‚Fully integrated turn-key solution for automated 3D measurement technology‘.
Nach den EMVA Innovations mit …
Smarttech3D, Mapvision, 8Tree und Rayscan und zur Mittagszeit folgen Precitec, Zeiss und Polytec in der Session Surface Metrology. Hier zeigen Precitec ‚Precision, Speed, and Efficiency: The Cutting-Edge Sensors for challenging Industrial Applications‘, Zeiss ‚Surface finish and Roughness Solutions‘ und Polytec ‚Reliable Surface Quality Inspections and Pass-fail Analysis‘.
Zum Abschluss des Vortragsteils spricht in der Session CT & X-Ray Zeiss zum Thema ‚Up to 100x Productivity Improvements for X-ray Microscopy using AI reconstruction‘ und Volume Graphics über ‚CT meets CAE simulation‘.
Veranstaltungspartner sind der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA und die Messe Control. Platinsponsor des inVISION Day Metrology ist Zeiss IMT. Die Registrierung ist kostenfrei und ermöglicht zudem im Nachgang der Konferenz, sich alle Vorträge nochmals als Webinar-on-Demand ansehen zu können.
