Allgemein
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Imaging Innovation Summit
Imaging Innovation Summit Am 9. Juni veranstaltet Edmund Optics das virtuelle Imaging Innovation Summit. Unter dem Motto ´Building better Imaging Systems´ werden dabei in mehreren Sessions Tipps zum Aufbau von…
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Jenoptik mit solidem 1. Quartal
Jenoptik mit solidem 1. Quartal Der Jenoptik-Konzern verzeichnete im 1. Quartal 2020 einen Anstieg des Auftragseingangs (bereinigt um die Entkonsolidierung der Hillos GmbH) um 3,6% auf rund 211,7Mio. Euro (VJ.…
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Fiber Mini SFF für GigE Vision
OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.
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Tagungsbeiträge Oldenburger 3D Tage 2020
Tagungsbeiträge Oldenburger 3D Tage 2020 Das Buch ´Photogrammetrie – Laserscanning – Optische 3D-Messtechnik´ (ISBN 978-3-87907-688-8) präsentiert die Tagungsbeiträge der 19. Oldenburger 3D-Tage, die Anfang Februar 2020 stattfanden. Die Beiträge zeigen…
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Start der virtuellen Industry Show
Start der virtuellen Industry Show Bevor nächste Woche die inVISION Show ihre virtuellen Messetore öffnet, hat bereits diese Woche die Industry Show des SPS-Magazins begonnen.
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UKIVA Präsentationen online
UKIVA Präsentationen online Aufgrund von Covid-19 wurde die diesjährige UKIVA Machine Vision Conference & Exhibition auf 2021 verschoben.
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Messeaufbau inVISION Show beginnt
Messeaufbau inVISION Show beginnt Nächste Woche fängt die inVISION Show (19. Mai bis 16. Juni) an. Mittlerweile beginnen die ersten Aussteller, wie Cognex, Hamamatsu, IDS, ifm, Opto, Trioptics und viele…
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Programm virtuelle EMVA Konferenz
Programm virtuelle EMVA Konferenz Nach der Verschiebung der physischen EMVA Business Conference organisiert die EMVA am 26. Juni 2020 eine eintägige virtuelle Business Conference.
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Europäisches MV Forum abgesagt
Europäisches MV Forum abgesagt Das 5. Europäische Machine Vision Forum 2020 in Cork, Irland (10. bis 11. September 2020) musste leider aufgrund der Entwicklungen der Covid-19 Pandemie abgesagt werden.
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AIA Vision Week
AIA Vision Week Vom 18. bis zum 22. Mai veranstaltet der amerikanische Bildverarbeitungsverband die AIA Vision Week.
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Bild 1 | Unter anspruchsvollen Bedingungen erfasste Oberflächendaten eines Metallrings: Daten ohne Filter (1a.), Kontrastschwelle: 0 (1b.); Die selben Daten mit erhöhter Kontrastschwelle genau wie 1a nach Anwendung von ECT (2a) sowie 3D-Daten von 2a mit derselben Kontrastschwelle wie 1b. (Bild: Polytec GmbH)Robuste Oberflächenmesstechnik für die Produktion
Ein neues Verfahren zur Auswertung interferometrischer Messdaten ermöglicht es, die Auswirkungen externer Störeinflüsse deutlich zu reduzieren. Im Gegensatz zu anderen Methoden, die teilweise Artefakte erzeugen, deren Amplitude größer als die…













