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Global Context Anomaly Detection

Die Deep-Learning-basierte Technologie Global Context Anomaly Detection in Halcon 22.05 ermöglicht die robuste Inspektion von Leiterplatten in der Halbleiterfertigung.
Bild: MVTec Software GmbH

Mit dem Feature Global Context Anomaly Detection von MVTec werden logische Inhalte eines Bildes ‚verstanden‘. Die Technologie erkennt komplett neue Varianten von Anomalien wie z.B. fehlende, verformte oder falsch angeordnete Bauteile. Damit ist die Fehlererkennung nicht mehr auf lokale Defekte beschränkt, sondern ermöglicht die inhaltliche und logische Inspektion.

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