News
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Grundsteinlegung für IFM in China
In Suzhou, China, erfolgte die Grundsteinlegung für den Bau eines neuen Werkes der IFM-Unternehmensgruppe.
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Marktreport: Flüssiglinsen-Module
Laut UnivDatos wird die steigende Nachfrage nach Hochgeschwindigkeits-Autofokus sowie die zunehmende Verbreitung KI-gestützter Bildverarbeitung den weltweiten Markt für Flüssiglinsen-Module antreiben.
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Fiber Mini SFF für GigE Vision
OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.
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Neuer VP bei DWFritz
DWFritz Automation gibt bekannt, dass Brent Barcey als Vice President und General Manager, Advanced Manufacturing Solutions, zum Unternehmen gestoßen ist.
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Stemmer Imaging Americas unter neuer Leitung
Stemmer Imaging ernennt Pascal Pilote zum Präsidenten für Stemmer Imaging America sowie zum Mitglied des Group Management Teams.
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High-Speed-Vision
Am 20. Mai berichten Emergent Vision (How high-performance imaging is redefining industrial automation), Lucid Vision (Event-based Vision Camera for Motion Analysis), Baumer (Break the speed limit with GigE Vision 3.0…
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Thermografie
Am 13. Mai ab 14 Uhr präsentieren Edevis (Detecting Defects in Weld Seams Using Laser Thermography), Optris (Digital Interfaces for Pyrometers & IR Cameras) und Infratec (IR Cameras small &…
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Diskussion auf der Control: KI für die QS
Im Rahmen des Control Quality Talk 2025 soll am 6. Mai ab 14:30 Uhr auf der Control Messe (Halle 7 – 7115) mit einer Expertenrunde diskutiert werden, welche Rolle KI-Systeme…
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World of Photonics Congress
Vom 22. bis 27. Juni trifft sich die internationale Wissenschaftselite in München, um sich über Leuchtturmprojekte der Photonik und Laserforschung zu informieren.
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Neue ISO-Arbeitsgruppe zum EMVA1288-Standard
Im Herbst 2024 hat der EMVA-Vorstand beschlossen, den vom Verband gehosteten EMVA1288-Standard in eine internationale ISO-Norm zu überführen.
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Neubau bei Hamamatsu
Hamamatsu Photonics hat ein neues Gebäude in seiner Shingai-Fabrik gebaut, um die Produktionskapazität für optische Halbleitergeräte, einschließlich solcher für die Halbleiterfertigung und Inspektionsgeräte, zu erhöhen.
















