10x schneller als bisher
Speed dank paralleler Hardwarearchitektur & Ethercat
Eine Besonderheit des Xpectia FH-Systems ist seine hohe Geschwindigkeit. Wie es zu dieser kommt und für welche Anwendungen das neue System deshalb ideal geeignet ist, wollten wir von Rüdiger Kläger, Product Group Manager Quality Control & Inspection bei der Omron Europe OMG GmbH, wissen.
Was sind neben hochgenauen Positionieraufgaben weitere Einsatzbereiche des Xpectia FH-Systems?
R.Kläger: Xpectia FH eignet sich für sämtliche Aufgaben der optischen Qualitätskontrolle, der präzisen Erfassung von Geometrien sowie Positionieraufgaben. Es lässt sich aufgrund seiner Eigenschaften äußerst einfach in jede Maschine oder Roboteranwendung integrieren. So können alle anspruchsvollen Qualitätskontrollen innerhalb der Prozesse, wie sie z.B. in der Lebensmittelverpackung und Pharmaindustrie vorgeschrieben sind, in wenigen Arbeitsschritten parametriert werden. Das System hat sehr leistungsstarke Codeprüfungs- und OCR-Funktionen und ist damit eine ideale Lösung für Track&Trace-Anwendungen.
Wie stark beruht die Verarbeitungsgeschwindigkeit auf dem Shape Search III Algorithmus?
R.Kläger: Im Vergleich zu vorherigen Algorithmen konnte mit Shape Search III die Geschwindigkeit um den Faktor 100 beschleunigt werden, und das bei gleichzeitiger Steigerung der Detektionsqualität. Durch die Kombination von ultra-schneller, paralleler Hardwarearchitektur und Ethercat-Kommunikation kann Omron mit dem FH-System eine über 10x schnellere Detektionsgeschwindigkeit gegenüber herkömmlichen Inspektionssystemen realisieren.
