Bestimmte Materialeigenschaften lassen sich durch spektrale Bildgebungstechnologien insbesondere im erweiterten SWIR-Bereich über 1.700nm differenzieren. Die Erfassung von Infrarotlicht in diesem Wellenlängenbereich ist eine Herausforderung, die eine hochentwickelte Sensortechnologie erfordert. Die dazu verfügbare Sensorik hat jedoch spezifische Stärken und Schwächen, die hier kurz beispielhaft beleuchtet werden sollen.