Die neuen CMOS-Sensoren von STM mit dualem Global- und Rolling-Shutter-Modus optimieren durch die Kombination von simultaner und sequenzieller Pixelbelichtung die Bildaufnahme unter verschiedensten Lichtbedingungen. Die CMOS sind in monochromen (VD5943, VB5943) und RGB-IR (VD1943, VB1943) erhältlich. Letztere verfügen über eine integrierte RGB-IR-Trennung und intelligentes Upscaling. Dadurch wird der IR-Kanal optimiert und sowohl 5MP-RGB- als auch 5MP-IR-Bilder geliefert.
Das australische Unternehmen Arkeus hat eine Series-A-Finanzierung über 25Mio.A$ abgeschlossen.
Am 25. Juni lädt die Wenzel Group nach Wiesthal zum Technologieforum ein.
Der Markt für humanoide Roboter steht laut Interact Analysis noch am Anfang, soll jedoch in den 2030er-Jahren deutlich wachsen.
Das Projekt GiantEye in dessen Rahmen die XXL-CT Technologie des Entwicklungszentrums Röntgentechnik des Fraunhofer IIS in die Gantry Bauweise überführt wird, geht in die heiße Phase.
Die deutschen Maschinenexporte sind im ersten Quartal 2026 um 2,0% auf 48,9 Milliarden Euro gesunken.
Die VisionKey GmbH hat die neue Marke Sortservice gegründet und bietet ab sofort 100-Prozent-Kontrolle durch…
Anna Bischof hat am 1. Mai die Leitung der Geschäftsstelle des Leistungszentrums Terahertz (LZ THz) von Benjamin Hoffmann übernommen.
Für den inVISION Day Metrology am 10. Juni hat die EMVA vier besonders interessante Firmen ausgewählt, die ihre innovativen Lösungen in 10…
Ab 15:30 Uhr steht im Rahmen der Podiumsdiskussion das Thema ‚The Future of Metrology‘ im Mittelpunkt.
Die Anmeldung für den inVISION Day Metrology ist kostenfrei und bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedenen Vorträgen auch einzeln Live teilzunehmen (und…
Auch in diesem Jahr unterstützen der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA sowie die Messe Control den inVISION Day Metrology als Event-Partner.
Plasma-Jets, bei denen ionisiertes Gas als gebündelte, hochdynamische, lichtemittierende Struktur aus einer Quelle austritt, spielen eine zentrale Rolle in technologischen und medizinischen…
Die diesjährige CHII (Conference for Hyperspectral Imaging in Industry) brachte am 20. und 21. Mai in Graz 121 Fachbesucher von 68 Unternehmen…
Die Keynote ‚The Filter Toolbox ISO16610 for Surface Topography – Theory & Application Examples‘ wird von Prof. Dr. Jörg Seewig (RPTU Kaiserslautern-Landau)…
Zur ersten Session ‚3D Scanning‘ (Start 10:00 Uhr) begrüßen wir u.a. AT Sensors (Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with 3D Laser Profilers)…
Weiter geht es zur zweiten Session ‚Inline Metrology‘ um 11:10 Uhr u.a. mit Vorträgen von Kistler & AIT Goehner (Industrial Dimensional Measurement…
In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘.
Auch in diesem Jahr präsentiert der europäische Bildverarbeitungsverband vier innovative Firmen.
