Am Mittwoch den 26. April findet der inVISION Day Metrology – Digital Conference for Metrology statt. Die englischsprachige Online-Konferenz wird in den vier Sessions 3D-Scanner, Inline-Metrology, Surface Metrology and CT & X-Ray aktuelle Messtechnik Trends präsentieren. Das vollständige Konferenzprogramm wird Mitte Februar veröffentlicht. Veranstaltungspartner sind die Messe Control, sowie der EMVA. Die Anmeldung zum inVISION Day Metrology ist kostenlos und ermöglicht es, alle Vorträge der Konferenz später auch noch einmal als Video-on-Demand anzusehen.
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Basierend auf seinem Embedded Vision Ecosystem hat Stemmer Imaging jetzt ein Embedded Linescan Subsystem vorgestellt. Dieses zeigt, dass hochauflösende Linescan-Kameras auch auf Embedded Systemen viele Vorteile bieten. Die Kombination bringt das Verarbeitungssystem direkt an die Bilderfassung und ermöglicht dadurch signifikante Einsparungen in der Hardware.