Während der Photonics West Messe in San Francisco gewann Precitec den ersten Preis bei den SPIE Prism Awards in der Kategorie Test und Messung für seinen Flying Spot Scanner 310. In einem einzigen Scanvorgang kann das System die Gesamtdickenabweichung, die Krümmung und die Verformung eines gesamten 12″-Wafers messen und bei Standardanwendungen in nur zehn Sekunden pro Wafer alle Hohlräume erkennen.
Framegrabber für schnelle Sortierung von Kaffeekirschen
Die Highspeed-Inspektionssysteme von Xeltron vertrauen auf die Grablink Duo Camera Link-Framegrabber von Euresys für ihre hohe Genauigkeit und ihren Durchsatz.