Taktiles Mikroskop

Bild 1 | Das multifunktionale Gerät Zeiss O-Inspect duo kombiniert die Technologie und Software der taktilen und optischen Messtechnik mit jener der Mikroskopie. Brennstoffzellen, Leiterplatten und mehr können in ihrer Gesamtheit damit inspiziert werden.
Bild 1 | Das multifunktionale Gerät Zeiss O-Inspect duo kombiniert die Technologie und Software der taktilen und optischen Messtechnik mit jener der Mikroskopie. Brennstoffzellen, Leiterplatten und mehr können in ihrer Gesamtheit damit inspiziert werden. – Bild: ©Sebastian Dorbrietz/Carl Zeiss Industrielle Messtechnik

Mitarbeiter:innen in Qualitätslaboren sehen sich in ihren Tätigkeiten häufig mit Herausforderungen konfrontiert – besonders, wenn es um die Inspektion großer Werkstücke geht. In den meisten Fällen sind Mikroskope nicht groß genug, um Bauteile wie Leiterplatten in ihrer Gesamtheit abbilden zu können. Zudem sind Anschaffungskosten für verschiedene Systeme wie Mikroskope und Messgeräte hoch und der verfügbare Platz im Labor meist limitiert. Hier setzt Zeiss O-Inspect duo an: Das multifunktionale Gerät kombiniert die Technologie und Software der taktilen und optischen Messtechnik mit jener der Mikroskopie und deckt somit zwei wichtige Anwendungsbereiche in der Qualitätssicherung für ein breites Spektrum an Bauteilen ab. Das Gerät wurde speziell für Anwendungen entwickelt, bei denen die Kombination von dimensionaler Messung und Inspektion benötigt wird – einschließlich Segmentierung, Stitching, Farbbild und Bildverarbeitung. Die Kombination aus 3D-Messtechnik und mikroskopischer Inspektion steigert die Effizienz und spart Platz in Qualitätslaboren.

Bild 2 | Mit Zeiss größtem Mikroskop gehört das Zerschneiden von Bauteilen zur Inspektion der Vergangenheit an.
Bild 2 | Mit Zeiss größtem Mikroskop gehört das Zerschneiden von Bauteilen zur Inspektion der Vergangenheit an. – Bild:©Sebastian Dorbrietz/Carl Zeiss Industrielle Messtechnik

Großes Mikroskop für gesamtheitliche Inspektionen

Mit Zeiss größtem Mikroskop gehört das Zerschneiden von Bauteilen zur Inspektion der Vergangenheit an: Brennstoffzellen, Leiterplatten und mehr können in ihrer Gesamtheit inspiziert werden. Das schont wertvolle Ressourcen, spart Zeit und reduziert Fehlerquellen, die durch das transportieren zerkleinerter Werkstücke zwischen verschiedenen Systemen entstehen können. Alternativ können mit Zeiss O-Inspect duo auch viele kleine Bauteile in einem Messablauf geprüft werden. Während Schwarz-Weiß-Bilder in der Messtechnik für starke Kontraste sorgen, bieten Farbbilder einen Vorteil in der mikroskopischen Analyse: Durch die hochauflösende Optik mit Farbkamera werden auch kleinste Defekte sichtbar und verlässlich abgebildet. Das ermöglicht eine präzise Inspektion und Auswertung. Durch die 5MP Kamera entsteht auch in der Messtechnik kein Verlust der Genauigkeit.

Bild 3 | Zeiss O-Inspect duo deckt sowohl die optische als auch die taktile Messtechnik ab.
Bild 3 | Zeiss O-Inspect duo deckt sowohl die optische als auch die taktile Messtechnik ab. – Bild: ©Sebastian Dorbrietz /Carl Zeiss Industrielle Messtechnik

Taktiles und optisches Messen mit hoher Genauigkeit

Zeiss O-Inspect duo deckt sowohl die optische als auch die taktile Mess-technik ab. Mittels optischer Messung können sensible Bauteile berührungslos mit höchster Präzision gemessen und analysiert werden, was die Messzeit reduziert. Möglich ist das dank einem neu entwickelten regelbarem Ringlicht, einem großen Sichtfeld mit hoher Bildschärfe sowie einer hohen Abbildungstreue, selbst in den Randbereichen. Taktile 3D-Messungen können mit dem Sensor Zeiss Vast XXT besonders schnell und präzise durchgeführt werden, indem eine große Anzahl von Messpunkten in einer einzigen Bewegung aufgenommen wird.

Zeiss O-Inspect duo verfügt über zwei dezidierte Software-Programme für Anwendungen in der Mikroskopie und Metrologie.
Zeiss O-Inspect duo verfügt über zwei dezidierte Software-Programme für Anwendungen in der Mikroskopie und Metrologie. – Bild: ©Sebastian Dorbrietz/ Carl Zeiss Industrielle Messtechnik

Starke Software-Pakete

Zeiss O-Inspect duo verfügt über zwei dezidierte Software-Programme für Anwendungen in der Mikroskopie und Metrologie: Zeiss Calypso und Zeiss Zen core. Anwender aus dem jeweiligen Bereich müssen dadurch keine neue Software erlernen:

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