Neuheiten
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Oberflächenmessungen im Subnanometerbereich
Oberflächenmessungen im Subnanometerbereich Das Weißlichtinterferometer MarSurf WM 100 ist ideal für schnelle Messungen von feinsten Oberflächendetails im Subnanometerbereich. Durch das flächenerfassende Messverfahren können in nur wenigen Sekunden topografische Messergebnisse der…
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USB3.0-Kamera mit Sonys IMX174 Sensor
USB3.0-Kamera mit Sonys IMX174 Sensor Perfekt für schnelle Produktionsautomatisierung oder lichtsensible Industrieapplikationen ist die Teli Bee Serie BU238M/MC mit Sonys neuem Global Shutter CMOS Sensor. Der Exmor Global Shutter mit…
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Optimale Kleberaupeninspektion
Optimale Kleberaupeninspektion Die Nutzung von IR-Lasertechnologie in Verbindung mit neuen Auswertealgorithmen sichert beim SpinTop 3D die Qualitätskontrolle der Kleberaupe zuverlässig. Der unabhängig von der Klebedüsenorientierung bewegte Sensorkopf ermöglicht eine vollständige…
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Einsteigerslösung für Weißlicht-Messungen
Einsteigerslösung für Weißlicht-Messungen Mit der Weißlicht-Lösung WLS qFlash können jetzt auch kleine und mittelgroße Herstellerbetriebe Oberflächen und geometrische Elemente in der Fertigungsumgebung messen, auch wenn wenig Platz vorhanden ist. Die…






