Keynote inVISION Day Metrology vom WZL/RWTH Aachen

Bild: WZL / RWTH Aachen

Am 16. Mai findet zum zweiten Mal der inVISION Day Metrology statt. Die Keynote der kostenfreien Online-Konferenz kommt vom WZL / RWTH Aachen und beschäftigt sich mit dem Thema ‚Trends in Intelligent Metrology & Quality Sensing‘. Weitere Informationen zum Programm und kostenfreie Anmeldung unter…

TeDo Verlag GmbH
http://www.invdays.com/metrology

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