Die Zeiss-Gruppe hat kürzlich den Geschäftsbereich Zeiss Automated Inspection (AI) an Callista verkauft, und Zeiss AI wird zu Newston Automated Solutions. Doch was waren die Gründe für den Verkauf, wer ist der neue Eigentümer und welche Zukunftspläne hat Newston? Um diese Fragen zu beantworten, haben wir im inVISION-Podcast mit Kai-Udo Modrich, dem bisherigen Leiter von Zeiss AI und dem neuen CEO von Newston, gesprochen.
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100-Prozent-Kontrolle durch Machine Vision als Service
Die VisionKey GmbH hat die neue Marke Sortservice gegründet und bietet ab sofort 100-Prozent-Kontrolle durch Machine Vision als Service an.
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25Mio.A$ für Ausbau von KI-Sensorsystemen
Das australische Unternehmen Arkeus hat eine Series-A-Finanzierung über 25Mio.A$ abgeschlossen.
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Wenzel Technologieforum mit Partnern
Am 25. Juni lädt die Wenzel Group nach Wiesthal zum Technologieforum ein.
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Humanoide Robotik: Studie erwartet deutlichen Marktausbau
Der Markt für humanoide Roboter steht laut Interact Analysis noch am Anfang, soll jedoch in den 2030er-Jahren deutlich wachsen.
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EMVA Innovations beim inVISION Day Metrology
Für den inVISION Day Metrology am 10. Juni hat die EMVA vier besonders interessante Firmen…
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Maschinenexporte aus Deutschland im ersten Quartal rückläufig
Die deutschen Maschinenexporte sind im ersten Quartal 2026 um 2,0% auf 48,9 Milliarden Euro gesunken.
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Heidelberger BV-Forum in Mannheim
Am 7. Juli findet das 93. Heidelberger Bildverarbeitungsforum an der Universität Mannheim mit der Unterstützung von Basler statt. Schwerpunkt ist dann ‚Learning…
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Geschäftsstellenleitung im Leistungszentrum Terahertzsensorik wechselt
Anna Bischof hat am 1. Mai die Leitung der Geschäftsstelle des Leistungszentrums Terahertz (LZ THz) von Benjamin Hoffmann übernommen.
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Innovations selected by EMVA
Auch in diesem Jahr präsentiert der europäische Bildverarbeitungsverband vier innovative Firmen.
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Diskussionsrunde ‚The Future of Metrology‘
Ab 15:30 Uhr steht im Rahmen der Podiumsdiskussion das Thema ‚The Future of Metrology‘ im Mittelpunkt.
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Kostenfreie Anmeldung & Video-on-Demand
Die Anmeldung für den inVISION Day Metrology ist kostenfrei und bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedenen Vorträgen auch einzeln Live teilzunehmen (und…
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Event Partner: Control und EMVA
Auch in diesem Jahr unterstützen der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA sowie die Messe Control den inVISION Day Metrology als Event-Partner.
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Vielversprechender Start der Control Expert Days
Mit einem vollgepackten Vortragsprogramm ist die Premiere der Control Expert Days auf dem Stuttgarter Messegelände erfolgreich zu Ende gegangen.
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Erfolgreiche Neuauflage der CHII
Die diesjährige CHII (Conference for Hyperspectral Imaging in Industry) brachte am 20. und 21. Mai in Graz 121 Fachbesucher von 68 Unternehmen…
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Keynote: The Filter Toolbox ISO16610
Die Keynote ‚The Filter Toolbox ISO16610 for Surface Topography – Theory & Application Examples‘ wird von Prof. Dr. Jörg Seewig (RPTU Kaiserslautern-Landau)…
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Session 1: 3D Scanning
Zur ersten Session ‚3D Scanning‘ (Start 10:00 Uhr) begrüßen wir u.a. AT Sensors (Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with 3D Laser Profilers)…
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Session 2: Automated Metrology
Weiter geht es zur zweiten Session ‚Inline Metrology‘ um 11:10 Uhr u.a. mit Vorträgen von Kistler & AIT Goehner (Industrial Dimensional Measurement…
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Session 4: NDT & CT/X-Ray
In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘.


















