Wafer-/PCB-Inspektion mit hochauflösenden Farbzeilenkameras
Mit der allPIXA evo lassen sich z.B. bei der Wafer Inspektion in einem Scan mehrere Beleuchtungskonfigurationen kombinieren. (Bild: Chromasens GmbH / ©nicolas_/istockphoto.com)

Mit der allPIXA evo lassen sich z.B. bei der Wafer Inspektion in einem Scan mehrere Beleuchtungskonfigurationen kombinieren. (Bild: Chromasens GmbH / ©nicolas_/istockphoto.com)

Quadlinearer VollfarbenCMOS-Zeilensensor

Für die Zeilenkamera-Modellreihe allPixa evo von Chromasens wird ein neuer quadlinearer Vollfarben-CMOS-Zeilensensor eingesetzt. Mit diesem wird erstmals die Auflösungsgrenze von 10.000 Pixeln bei echten Farbsensoren in RGB durchbrochen. Die Zeilenkameras verbinden die hohe Bildqualität eines CCD-Sensors mit der Leistung der CMOS-Technologie. Sie bieten Zeilenlängen bis zu 15.360 Pixeln x 4 Zeilen, sowie Zeilenfrequenzen von bis zu 48kHz bei 2,2 Gigapixel/s. Dabei hängt die maximale Übertragungsleistung von der Leistung des PCs und der verwendeten Netzwerkkarte ab. Die neue Kameraserie ist besonders für die anspruchsvolle Halbleiterinspektion und die Prüfung von Leiterplattenkomponenten geeignet. Im Zusammenwirken mit einer speziell angepassten Linienbeleuchtung wird die hohe Leistungsfähigkeit der Zeilenkameras weiter optimiert. Das Beleuchtungssystem leuchtet eine Linie auf dem Objekt mit sehr hoher Lichtstärke homogen aus, wobei sich die Lichtfarbe und die Beleuchtungsgeometrie genau und variabel an die geforderte Bilderfassung anpassen lassen.

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Thematik:
Chromasens GmbH
www.chromasens.de

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