Metrologie & NDT
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Bild: P. E. Schall GmbH & Co. KGControl Quality Talks 2025: KI in der QS
Zunehmend unterstützen KI-Systeme die Qualitätssicherung, z.B. bei Messungen, Datenauswertung oder der Automatisierung durch Closed-Loop-Prozesse.
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Bild: DGZFPDGZFP und DGM bündeln Kräfte
Die DGZFP (Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung und die Deutsche Gesellschaft für Materialkunde (DGM) haben ein Memorandum of Understanding unterzeichnet, um die Potenziale von Material- und Fertigungstechnik mit modernster Prüftechnik…
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Bild: Steinmeyer Mechatronik GmbHWechsel bei Steinmeyer Mechatronik
Nach fast 30 Jahren im Unternehmen, davon 18 Jahre als Geschäftsführer, verlässt Dr. Alexander Bromme (l.) die Steinmeyer Mechatronik.
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Bild: Xarion Laser Acoustics GmbHInline-Ultraschallprüfung
Mit einer neuen Technologie zur berührungslosen Ultraschallerzeugung durch Laserpulse und berührungsloser Detektion über ein optisches Mikrofon bietet Xarion ein koppelmittelfreies Prüfverfahren.
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Image: BAM Bundesanstalt für MaterialforschungAdditive Teile identifizieren
Die BAM stellt eine zum Patent angemeldete Technologie vor, wie sich 3D-gedruckte Bauteile durch ihre Mikrostruktur eindeutig authentifizieren lassen.
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Bild: Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbHZeiss X-Ray Anwendertreffen
Das Zeiss Inspect X-Ray Anwendertreffen findet am 17. September sowohl in Oberkochen als auch in Braunschweig statt. Dort werden den Anwendern die neuesten Funktionen der Inspect Software vorgestellt.
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Bild: TU Technische Universität WienCT-Tag 2025 an der TU Wien
Vom 24.-25. September 2025 findet das Computertomographie-Seminar am IFT der TU Wien statt. Dabei wird gezeigt, wie sich industrielle CT entlang der gesamten Prozesskette – von der Entwicklung über die…
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Messtechnik Trends
Anfang April fand der inVISION Day Metrology 2025 statt. Bei der Online-Konferenz zu Messtechnik & NDT – für die sich 303 Personen aus 39 Ländern angemeldet hatten – wurden in…
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Bild: Mitutoyo Deutschland GmbHRauheits-/Konturmessung in einem einzigen Detektor
Das neue Modell der Mitutoyo Formtracer Avant-Serie, der FTA-H3000, vereint Rauheits- und Konturmessung in einem einzigen Detektor.
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Bild: TeDo Verlag GmbHBe Careful!
One of the mega trends currently is AI. In a panel discussion at the inVISION Day Metrology it was intended to address the question to what extent and where AI…
