Am 21. Mai findet auf den Control Expert Days in Stuttgart ab 15 Uhr die Diskussionsrunde „Wo hilft KI in der Qualitätssicherung wirklich?“ statt. Vertreter von BabTech, Glutech, Titus Kraus, ComPro, Dr. Inge Geid-Dietrich und Wertmesstechnik Dr. Ralf Christoff sprechen darüber, wo KI in der QS bereits eingesetzt wird und welche Hürden noch bestehen, damit sie Anwender künftig stärker unterstützt. Moderiert wird die Runde von InVision-Chefredakteur Dr.-Ing. Peter Ebert. Die begleitende Audioaufnahme wurde KI-generiert und vom Tedo-Verlag bereitgestellt.
Am Donnerstag, den 21. Mai findet auf den Control Expert Days in Stuttgart ab 15:00 Uhr die Diskussionsrunde ‚Wo hilft KI in der Qualitätssicherung wirklich?‘ statt. Bei dem Gespräch diskutieren Babtec, Cluetec (Titus Krauss), ComPro (Dr.-Ing. Edgar Dietrich) und Werth Messtechnik (Dr. Ralf Christoph) bei welchen Anwendungen KI in der QS aktuell bereits zum Einsatz kommt und welche Hindernisse es zu überwinden gilt, damit KI dem Anwender noch mehr helfen kann. Moderiert wird die Diskussion von inVISION Chefredakteur Dr.-Ing. Peter Ebert.
Das Projekt GiantEye in dessen Rahmen die XXL-CT Technologie des Entwicklungszentrums Röntgentechnik des Fraunhofer IIS in die Gantry Bauweise überführt wird, geht in die heiße Phase.
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Plasma-Jets, bei denen ionisiertes Gas als gebündelte, hochdynamische, lichtemittierende Struktur aus einer Quelle austritt, spielen eine zentrale Rolle in technologischen und medizinischen…
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Zur ersten Session ‚3D Scanning‘ (Start 10:00 Uhr) begrüßen wir u.a. AT Sensors (Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with 3D Laser Profilers)…
