Die Weißlicht-Interferometer der Serie Interferometer IMS5200-TH von Micro-Epsilon werden für nm-genaue Schichtdickenmessungen von 1 bis 100µm mit einer Linearität von <±100nm eingesetzt. Mit einer Messrate von bis zu 24kHz sind sie ideal für dynamische Messaufgaben. Zudem ist eine Multi-Peak-Messung von bis zu fünf dünnen Schichten möglich. Sensor und Controller werden werkseitig aufeinander abgestimmt und kalibriert.
Optical designers and system engineers are under pressure to validate image quality sooner, build fewer…
This year, GenIcam celebrates its 20th anniversary. That’s why inVISION spoke with Friedrich (Fritz) Dierks…
OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.
Eines der Highlights von Laser Components auf der Vision sind die Flexpoint MV-Lasermodule.
Sill Optics lädt zum Open House am 27. Oktober in Wendelstein ein.
Faro Creaform, ein Geschäftsbereich von Ametek, ist eine Partnerschaft mit dem La Roche-Posay Racing Team…
