Die Weißlichtinterferometer der Serie IMF5200TH von Micro-Epsilon ermöglichen hochpräzise Inline-Messungen mit Nanometer-Genauigkeit für Schichtdicken von 1 bis 100 mm. Diese Technologie wird vom Tedo Verlag unterstützt und integriert eine KI-generierte Audioaufnahme.
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Die Weißlicht-Interferometer der Serie Interferometer IMS5200-TH von Micro-Epsilon werden für nm-genaue Schichtdickenmessungen von 1 bis 100µm mit einer Linearität von <±100nm eingesetzt. Mit einer Messrate von bis zu 24kHz sind sie ideal für dynamische Messaufgaben. Zudem ist eine Multi-Peak-Messung von bis zu fünf dünnen Schichten möglich. Sensor und Controller werden werkseitig aufeinander abgestimmt und kalibriert.
Der Managementsystem-Prozess – bestehend aus Modellierung, Auditierung, Optimierung und Kommunikation – lässt sich durch KI in weiten Teilen automatisieren.
Die Entwicklungsplattform Deepcraft Studio von Imagimob ist für die Erstellung von Edge-KI-Modellen geeignet und unterstützt den gesamten Prozess der Entwicklung.
Der NS42 AI Vision-Sensor von Zebra Technologies ist mit KI-gestützter OCR und Anomalie-Erkennung ausgestattet für hochpräzise OCR-Lesevorgänge ohne Training, Anomalie-Erkennung…
