The 1.6MP Smart Code Reader VS1000 Pro of SmartMore is equipped with a high-performance deep learning chip and can reach 60fps. It adopts automatic mechanical focusing method 8, 12, 16mm), which can adapt to the working scene of 100 to 1000mm code reading. The sensor has the function of automatic parameter adjustment, which can quickly meet the needs of various setting of reading code parameter. Red/white light sources are optional, four groups of light sources are independently controlled, and 1-24 levels of light source brightness can be adjusted.
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25Mio.A$ für Ausbau von KI-Sensorsystemen
Das australische Unternehmen Arkeus hat eine Series-A-Finanzierung über 25Mio.A$ abgeschlossen.
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Wenzel Technologieforum mit Partnern
Am 25. Juni lädt die Wenzel Group nach Wiesthal zum Technologieforum ein.
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Humanoide Robotik: Studie erwartet deutlichen Marktausbau
Der Markt für humanoide Roboter steht laut Interact Analysis noch am Anfang, soll jedoch in den 2030er-Jahren deutlich wachsen.
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Meet&Greet bei GiantEye Projekt
Das Projekt GiantEye in dessen Rahmen die XXL-CT Technologie des Entwicklungszentrums Röntgentechnik des Fraunhofer IIS in die Gantry Bauweise überführt wird, geht in die heiße Phase.
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Maschinenexporte aus Deutschland im ersten Quartal rückläufig
Die deutschen Maschinenexporte sind im ersten Quartal 2026 um 2,0% auf 48,9 Milliarden Euro gesunken.
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100-Prozent-Kontrolle durch Machine Vision als Service
Die VisionKey GmbH hat die neue Marke Sortservice gegründet und bietet ab sofort 100-Prozent-Kontrolle durch…
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Geschäftsstellenleitung im Leistungszentrum Terahertzsensorik wechselt
Anna Bischof hat am 1. Mai die Leitung der Geschäftsstelle des Leistungszentrums Terahertz (LZ THz) von Benjamin Hoffmann übernommen.
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EMVA Innovations beim inVISION Day Metrology
Für den inVISION Day Metrology am 10. Juni hat die EMVA vier besonders interessante Firmen ausgewählt, die ihre innovativen Lösungen in 10…
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Diskussionsrunde ‚The Future of Metrology‘
Ab 15:30 Uhr steht im Rahmen der Podiumsdiskussion das Thema ‚The Future of Metrology‘ im Mittelpunkt.
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Kostenfreie Anmeldung & Video-on-Demand
Die Anmeldung für den inVISION Day Metrology ist kostenfrei und bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedenen Vorträgen auch einzeln Live teilzunehmen (und…
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Event Partner: Control und EMVA
Auch in diesem Jahr unterstützen der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA sowie die Messe Control den inVISION Day Metrology als Event-Partner.
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Multikamera-System für hochdynamische Plasma-Jets
Wenn Plasma sichtbar wird
Plasma-Jets, bei denen ionisiertes Gas als gebündelte, hochdynamische, lichtemittierende Struktur aus einer Quelle austritt, spielen eine zentrale Rolle in technologischen und medizinischen…
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Erfolgreiche Neuauflage der CHII
Die diesjährige CHII (Conference for Hyperspectral Imaging in Industry) brachte am 20. und 21. Mai in Graz 121 Fachbesucher von 68 Unternehmen…
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Keynote: The Filter Toolbox ISO16610
Die Keynote ‚The Filter Toolbox ISO16610 for Surface Topography – Theory & Application Examples‘ wird von Prof. Dr. Jörg Seewig (RPTU Kaiserslautern-Landau)…
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Session 1: 3D Scanning
Zur ersten Session ‚3D Scanning‘ (Start 10:00 Uhr) begrüßen wir u.a. AT Sensors (Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with 3D Laser Profilers)…
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Session 2: Automated Metrology
Weiter geht es zur zweiten Session ‚Inline Metrology‘ um 11:10 Uhr u.a. mit Vorträgen von Kistler & AIT Goehner (Industrial Dimensional Measurement…
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Session 4: NDT & CT/X-Ray
In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘.
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Innovations selected by EMVA
Auch in diesem Jahr präsentiert der europäische Bildverarbeitungsverband vier innovative Firmen.


















