Präzisionsmetrologie mit Laser-Scanning-Mikroskop

Präzisionsmetrologie mit
Laser-Scanning-Mikroskop

Die Navigation auf der Probe ist bei dem 3D-Laser-Scanning-Mikroskop Lext OLS4100 auch bei starker Vergrößerung unkompliziert, da stets eine mit geringer Vergrößerung erfasste Weitfeld-Übersichtsdarstellung der Probe angezeigt wird. Darüber hinaus wurde das Sehfeld durch Aktualisierung der Stitching-Funktionen erweitert. Aus zahlreichen Einzelaufnahmen wird nahtlos ein einzelnes Bild konstruiert, das anschließend in 2D oder 3D angezeigt und vermessen werden kann. Durch automatische Einstellung der Position entlang der Z-Achse wird die Bildaufnahme im Smart-Scan-Modus auf die Fokusebene beschränkt, wodurch schnelles 3D-Scannen in hoher Auflösung über weite Bereiche hinweg möglich ist. Der ultraschnelle Modus ist etwa 9x schneller als der Feinmodus. Mit dem neuen Multi-Layer-Modus, der jede einzelne Schicht als separate Fokusebene entlang der Z-Achse erkennt, sind auch Bildaufnahmen durch mehrere Schichten möglich.

www.olympus-ims.com/en/microscope

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