Der K Lens EE-Scanner inspiziert Leiterplatten vollautomatisch und erstellt detaillierte Stücklisten mit Informationen wie Bauteiltyp, Größe und Hersteller. Diese Daten lassen sich mit Preis-, CO2- und Materialdatenbanken verknüpfen, um präzise Aussagen über Kosten und den CO2-Fußabdruck zu treffen. Dank neuronaler Netze (Multiview AI) in Kombination mit der K Lens Sensortechnik kann der Scanner in Fertigungslinien, End-Of-Line-Tests oder Eingangskontrollen integriert werden und erfasst alle relevanten Daten mit nur einer einzigen Aufnahme.
www.k-lens.de
