Applied Materials und das Fraunhofer IPMS geben eine Zusammenarbeit zur Gründung eines Technologiezentrums für Halbleitermetrologie und Prozessanalyse bekannt. Das Technologiezentrum, welches am Center Nanoelectronic Technologies (CNT) des Fraunhofer IPMS in Dresden angesiedelt sein wird, wird mit eBeam-Metrologiegeräten von Applied Materials ausgestattet.
EMVA 1288 Standard Online Training
Am 18. Juni sowie am 3. Dezember findet ein dreitägiger Online-Kurs zur Norm 1288 der European Machine Vision Association (EMVA) statt. Ziel des Trainingskurses ist u.a. die vertiefte Kenntnis über die Grundlagen der neuen Version 4.0 sowie das Sammeln von praktischen Erfahrungen.