Das Gelsight Mobile von Micronise ist ein portables Oberflächenmessgerät welches sich hervorragend für die Darstellung und Quantifizierung von Strukturen und Defekten, wie Kratzern oder Dellen, auf Oberflächen eignet.
(Bild: Micronise)
Auch Rauheitswerte können ermittelt werden und das mit einer Auflösung von unter 1µm. Das taktil-optische Messprinzip kann für jede Art von Oberflächen genutzt werden.
Ein erstes Highlight des inVISION Day Metrology ist die 40 minütige Keynote des Werkzeugmaschinenlabor (WZL) der RWTH Aachen.
Bei der 3D Scanner Session (Start 10:00 Uhr) sind AT Automation Technology (Metrology Software enables super fast 3D evaluation), Hexagon (Structured light scanning made easy) sowie Saccade Vision (High resolution 3D scanning focuses on your features of interest) dabei.
Die Inline Metrology Session (Start 11:10 Uhr) startet mit Nikon (Laser Radar Metrology in EV Production), Micro-Epsilon (Inline 3D Measurements), bevor Eleven Dynamics (Universal Comaptibility with any Robot, Software & Sensor) und API Metrology (Efficiency through Integrated API Measurement Solutions for Automation) ihre Innovationen präsentieren.
Die Surface Metrology Session (Start 12:50 Uhr) umfasst Opto (Fast Anomaly detection on technical surfaces), Heliotis (3D inline sensor for inspection machines), Mahr (Modern surface measurement technology for hand use) sowie Precitec / Enovasense (Breakthrough in high resolution under surface analysis).
In der letzten Session des Tages präsentiert das Fraunhofer EZRT und X-ray lab das Thema ‚Boost your CT inspection: Up to 60% efficiency increase without hard- or software changes‘.
Der europäische Bildverarbeitungsverband EMVA hat vier Messtechnik Firmen ausgesucht, die in zehn Minuten Vorträgen während der EMVA Innovations Sessions ab 14:50 Uhr ihre Technik Highlight dem Publikum kurz vorstellen werden.
Zum Abschluss des Konferenztages startet um 15:30 Uhr die Diskussionsrunde ‚Using AI for Dimensional Metrology‘ mit Teilnehmern von Hexagon, LMI Technologies, Visiconsult und Zeiss.
Die Anmeldung für den inVISION Day Metrology ist kostenfrei und bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedenen Vorträgen auch einzeln Live teilzunehmen (und den Webinar-Link dafür mehrmals zu nutzen) oder im Nachgang der Konferenz einzelne Vorträge nochmals als Webinar-on-Demand anzusehen.
Die Messe Control und die EMVA sind Event Partner des inVISION Day Metrology.
Neben inVISION Chefredakteur Dr.-Ing. Peter Ebert (l.) wird als Co-Moderator erneut Joachim Hachmeister (m.) von D&H Premium Events dabei sein.
Im Rahmen der inVISION TechTalks Webinare findet am 19. November ab 14 Uhr ein weiteres ‚Metrology‘ Webinar statt, bei dem bereits AT Automation Technology, API Metrology und Nikon Metrology als Speaker bestätigt sind.
Oxford Instruments Market Cap um fast 9% gestiegen.
