Am 26. April (15:20 Uhr MESZ) findet im Rahmen des ‚inVISION Day Metrology – Digital Conference for Metrology‘ die Podiumsdiskussion ‚Metrology in the Digital Age‘ statt. Experten von Hexagon, Zeiss Automated Inspection und Mitutoyo diskutieren Fragen wie: Was ist der Unterschied zwischen einem klassischen Messsystem und einem IIoT-Messsystem, welche Vorteile bieten die neuen Systeme und wie lange wird es dauern, bis diese Systeme tatsächlich eingesetzt werden? Der inVISION Day Metrology präsentiert aktuelle Trends und Lösungen in vier Sessions zu den Themen 3D-Scanner, Inline-Messtechnik, Oberflächenmesstechnik sowie CT & X-Ray. Veranstaltungspartner der Online-Konferenz sind die Messe Control und der EMVA, Platinsponsor ist Zeiss. Kostenlose Anmeldung zur Online-Konferenz unter dem Link.
Right for the Job
In industries such as food and beverage, printing and packaging, steel, and pharmaceutical – where materials moving at high speed must be inspected for quality assurance – ultra-high speeds and image quality are required. To help with these requirements, cameras have seen significant developments in recent years, including the introduction of 10GigE, 25GigE, and now 100GigE line scan cameras by Emergent Vision.