Am 26. April (15:20 Uhr MESZ) findet im Rahmen des ‚inVISION Day Metrology – Digital Conference for Metrology‘ die Podiumsdiskussion ‚Metrology in the Digital Age‘ statt. Experten von Hexagon, Zeiss Automated Inspection und Mitutoyo diskutieren Fragen wie: Was ist der Unterschied zwischen einem klassischen Messsystem und einem IIoT-Messsystem, welche Vorteile bieten die neuen Systeme und wie lange wird es dauern, bis diese Systeme tatsächlich eingesetzt werden? Der inVISION Day Metrology präsentiert aktuelle Trends und Lösungen in vier Sessions zu den Themen 3D-Scanner, Inline-Messtechnik, Oberflächenmesstechnik sowie CT & X-Ray. Veranstaltungspartner der Online-Konferenz sind die Messe Control und der EMVA, Platinsponsor ist Zeiss. Kostenlose Anmeldung zur Online-Konferenz unter dem Link.
