Optische Messtechnik
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Bild: ©xiaoliangge/stock.adobe.comSemiconductor Revolution
Mit dem Flying-Spot-Scanner (FSS) 310 der Precitec Optronik können alle relevanten Ebenheitsparameter (Bow, Warp, TTV) von Halbleiterwafern bis zu 300m Durchmesser (12“) in einem Messvorgang über die Waferoberfläche extrem schnell…
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Bild: IBS Quality GmbHRobot-Spraying
Das automatisierte optische Messsystem PAM M von IBS Quality besteht aus einem Messtisch samt Drehteller auf dem ein Cobot mit einem 3D-Scanner angebracht ist. Über eine zentrale Software kann der…
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Bild: OptoMedia TechnologyFiber Mini SFF für GigE Vision
OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.
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Image: Visometry GmbHInteractive clipping and AR annotations
The release 1.5 of Visometry’s Twyn AR-software brings several updates: interactive clipping and annotations in the AR view, as well as an improved UI in Twyn Studio.
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Image: Hexagon Manufacturing IntelligenceCloud-Plattform verknüpft alle Daten
Die Nexus Plattform von Hexagon nutzt Cloud-Technologien, und gestattet Teams, in Echtzeit über den gesamten Produktlebenszyklus hinweg zusammenzuarbeiten – von Design und Konstruktion bis hin zu Produktion und Qualitätssicherung.
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Bild: Opto GmbHEdge Microscopy
Das KI-Digitalmikroskop von Opto ist mit einem auf einem CNN-basierenden Embedded Vision System von Basler ausgestattet. Das kostengünstige Mikroskop ist ein erster Schritt zur Automatisierung von Laboranalysen und -prozessen.
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Bild: TeDo Verlag GmbHLogistics Day 2023
Die inVISION veranstaltet zwei Online-Konferenzen. Am 28. März geht es beim Logistics Day 2023 um Intralogistiklösungen, am 26. April steht dann beim inVISION Day Metrology die Messtechnik im Fokus der…
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Bild: Wenglor Sensoric GmbHÜber den Wolken
Die beiden Produktreihen der 3D-Sensoren für kleine und große Messvolumen MLAS und MLBS der ShapeDrive G4-Familie von Wenglor erzeugen hochaufgelöste Punktewolken nahezu ohne Rauschen und Artefakte. Möglich wird dies dank…
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Image: Precitec-Optronik GmbHFast wafer inspection
For bow, warp, TTV and quality inspection of semiconductor wafers in shorter cycle times Precitec has launched the ultra-fast Flying Spot Scanner (FSS) 310. Its features include flexible scan trajectories,…
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Bild: AIT Austrian Institute of Technology GmbHRissen auf der Spur
AIT und Voestalpine Edelstahl entwickeln ein intelligentes Prüfverfahren, das automatisiert Fehler in Hochleistungsstahl-Erzeugnissen erkennt.
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Bild: 3plusplus GmbHAlles im Blick
3plusplus hat zusammen mit dem IWF der TU Berlin Messdaten und Echtzeitdaten für die Prozessüberwachung einer Werkzeugmaschine genutzt, um den fortschreitenden Verschleiß an der Schneidkante eines Werkzeugs sowie den Flächenverschleiß…
