Die Infrarotkamera mit Mikroskopoptik von AT – Automation Technology wurde für die Inspektion von elektronischen Komponenten entwickelt. Bisher ließen sich dort Detailanalysen im Mikrometerbereich üblicherweise nur mit gekühlten IR-Kameras durchführen. Mithilfe der Mikroskopoptik ist eine Auflösung von bis zu 10µm möglich bei einem Abstand von 12mm zum Objekt. Der Einsatz der Kamera ist in einem Temperaturbereich von -35 bis +55°C möglich.
Framegrabber für schnelle Sortierung von Kaffeekirschen
Die Highspeed-Inspektionssysteme von Xeltron vertrauen auf die Grablink Duo Camera Link-Framegrabber von Euresys für ihre hohe Genauigkeit und ihren Durchsatz.