Bei dem International Vision Standards Meeting Fall 25 in Haiku wurde die Leitung der EMVA-GenICam-Standardarbeitsgruppe für die nächsten zwei Jahre gewählt: Michael Schmidt-Basler bleibt Vorsitzender, Christoph Ziel (MVTec) weiterhin stellvertretender Vorsitzender. Neu im Team der Stellvertreter sind James Faulkner (Pleora Technologies) und Marcel Nagats (Baumer Optronic). Zudem wird darauf hingewiesen, dass die begleitende Audioaufnahme KI-generiert ist und vom teDo Verlag stammt.
* Diese Inhalte wurden mithilfe von Künstlicher Intelligenz erstellt und können Fehler enthalten.
Im Rahmen des International Vision Standards Meeting – Fall ’25 in Haikou wurden die Vorsitzenden der EMVA GenICam-Standard-Arbeitsgruppe für die kommenden zwei Jahre gewählt. Michael Schmidt (Basler) wurde als Vorsitzender bestätigt, Christoph Zierl (MVTec) bleibt stellvertretender Vorsitzender. Neu im Stellvertreterteam sind James Falconer (Pleora Technologies) und Marcel Naggatz (Baumer Optronic).
Am 20. und 21. Januar 2027 findet in München die erste Ausgabe des Advanced Humanoid Forum statt. Die Konferenz beschäftigt sich u.a. mit Themen wie Physical AI, humanoider…
Zum zehnjährigen Firmenjubiläum präsentiert Hikmicro den neuen Modus ‚SuperScene‘, der KI nutzt, um Wärmebildaufnahmen automatisch auf typische Anwendungssituationen abzustimmen und Untersuchungen direkt vor Ort auszuwerten.
Laut Marketsandmarkets wird der Markt für Bildsensoren voraussichtlich von 23,70Mrd.$ im Jahr 2026 auf 37,02Mrd.$ im Jahr 2032 wachsen, was einer durchschnittlichen…
Am 23. September findet das ‚Anwenderforum Mobile Robotik‘ beim Fraunhofer-Institut für Materialfluss und Logistik IML statt. Die Veranstaltung widmet sich der Weiterentwicklung…
The Imaging Source Americas und Optonic GmbH haben eine strategische Partnerschaft geschlossen, um die Verfügbarkeit der deutschen Ensenso 3D-Kameras im US-amerikanischen Markt…
Im Rahmen der Vision 2026 findet erstmals ein eintägiger Makeathon rund um Bildverarbeitung und Computer Vision statt. Auf einer eigenen Sonderfläche der…