Keynote inVISION Day Metrology

johannes
Bild: © IES

Am 2. April wird die Keynote der Online-Konferenz inVISION Day Metrology vom Fraunhofer IOSB kommen. Dr. Joannes Meyer – Gewinner des EMVA Young Professional Awards – wird über das Thema ‚Unconventional Optical Metrology – New Possibilities Beyond Classical Systems‘ berichten.