Inline Computational Imaging von AIT kombiniert die Verfahren Lichtfeld und Photometrie in einem kompakten Setup und ermöglicht in Echtzeit die simultane Erfassung von 2D-Farbdaten und 3D-Tiefeninformationen. Die Technologie arbeitet weitgehend unabhängig von den Oberflächeneigenschaften der Prüfobjekte (glänzend, matt, textuiert…).
Abweichungen im Mikrometerbereich werden dabei robust erkannt.