Fachartikel
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Dicke von Wafern exakt mit Weißlichtinterferometer messen
Bei der Produktion von Halbleiterwafern kommt es auf hohe Präzision an. Einer der entscheidenden Schritte ist das Läppen der Rohlinge, die dabei auf eine einheitliche Dicke gebracht werden. Um die…
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Fiber Mini SFF für GigE Vision
OptoMedias ultrakompaktes Mini SFF bringt zuverlässige, schnelle Glasfaserverbindungen in Industriekameras der nächsten Generation.
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Kombination aus digitaler Bildkorrelation und Thermografie
Die Kombination von Messergebnissen aus der digitalen Bildkorrelation Aramis von Gom Metrology und von Infrarotkameras von InfraTec ermöglicht die gleichzeitige Analyse des thermischen und mechanischen Verhaltens von Prüfkörpern im Bereich…
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Lexikon der Bildverarbeitung: Bildqualität
Der Begriff Bildqualität bezieht sich im Umfeld der Bildverarbeitung auf Eigenschaften aufgenommener digitaler Bilder, die für die Verarbeitung der Bilder von Bedeutung sind. Hierfür gibt es keine alleinige Kennzahl, -linie…
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Vision Tech in the Digital Lifecycle: AR & Fingerprints
The article series describes the role that Vision Tech is currently playing in the digital lifecycle and will play in the future. Part one (inVISION 2/23) explained the topics CAD,…
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Kein Ende der (freien) Framegrabber-Welt
Als Antwort auf das Intro im inVISION Newsletter vom 24. Mai ‚Das Ende der (freien) Framegrabber-Welt‘ möchte Active Silicon folgendes Statement abgeben:
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Nachbericht zur 21. EMVA Business Conference in Sevilla
Mit gut 110 Teilnehmern aus dem Who is Who der Bildverarbeitungsindustrie und einer stattlichen Anzahl von Begleitpersonen war die diesjährige EMVA Business Conference Anfang Mai in Sevilla ausgebucht. Durchweg gelobt…
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50 Jahre Laser
Vom 27. bis 30. Juni trifft sich in München die internationale Photonikbranche unter ganz besonderen Voraussetzungen: Die Laser World of Photonics feiert ihr 50-jähriges Jubiläum und bietet neben doppeltem Messegeschehen…
















